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2021电子智造检测技术高峰论坛圆满落幕!

作者: 『日联科技』发表时间:2021-06-28 09:00:00浏览量:1528

近者悦·远者来 6月26日,“2021电子智造检测技术高峰论坛”在无锡日联科技股份有限公司成功举办。 本次论坛由江苏省电子学会SMT专委会主办,日联科技承办,神州视觉协办,中国电子专用设备工业...
文本标签:电子智造检测技术高峰论坛

近者悦·远者来

6月26日,“2021电子智造检测技术高峰论坛”在无锡日联科技股份有限公司成功举办。



本次论坛由江苏省电子学会SMT专委会主办,日联科技承办,神州视觉协办,中国电子专用设备工业协会 、无锡国家高新技术产业开发区管理委员会支持,以“彰显智能检测洞察力”为主题,凝聚全国各地数百名电子行业学者与精英,聚焦电子制造缺陷检测最热领域,共同探讨了智能检测、缺陷控制、前沿创新等众多行业热点话题。



虽然活动当天阴雨绵绵,但并不影响大家对学术研讨的热情。



SMT专委会荣誉会长宣大荣先生首先为大会致辞,他表达了专委会在不同形势下、各种困难前,将始终坚定服务业界企业的初心和助力电子制造行业做大做强的决心。




X-Ray与AOI检测行业技术专家刘骏博士、王锦峰先生分别为观众带来了精彩了X-Ray及AOI检测技术的发展与前沿趋势专题演讲。


日联科技董事长刘骏博士

神州视觉董事长王锦峰先生


同时,来自德累斯顿工业大学的唐堂博士就“人工智能时代的智能检测”话题发表了学术演讲。


德累斯顿工业大学唐堂博士


华中科技大学吴懿平教授通过“极小焊盘阵列和极大固晶焊点缺陷控制”主题分享将话题引入如何利用先进封装前沿技术应对缺陷的检测。


华中科技大学吴懿平教授


此后,四位专家又通过一场圆桌交流与现场观众频繁互动,共同探讨电子智造检测技术的行业痛点和解决方案,将现场的热烈气氛推向高潮。


同时,来自古德电子、安泰智和的企业代表们相继上台通过生动案例分享了各自在X-RAY、AOI等检测设备在实际应用过程中的经验与体会。



最后由来自日联科技的技术专家就观众最关心的X-RAY检测过程中的常见问题作了深入剖析与讲解。



“日联杯”X-Ray检测技能竞赛


在另一个分会场内,与论坛同期举行的首届“日联杯”X-Ray检测技能竞赛也进行的别开生面,数十名选手们经过紧张激烈的PK,最终角逐出了一、二、三等奖,他们以自身过硬的检测技能为个人及企业争光添彩!




今年正值中国共产党成立100周年,活动现场主办方更是精心组织了一场百人大合唱,现场所有来宾在恢弘的音乐声中,挥舞着国旗,慷慨激昂的用歌声抒发内心对祖国的情感。



谈及活动感受,会后与会嘉宾纷纷表示本次论坛节奏紧凑,环环相扣技术交流话题亦是干货满满,意犹未尽同时期待主办方与检测行业代表们能持续为广大电子行业人员提供此类有影响力、有内涵的学术交流研讨活动。


日联科技作为X射线智能检测解决方案提供商,肩负“行业隐形冠军”的使命,通过组织此次论坛活动,将继续为电子智能制造行业发挥出X-Ray检测的强大技术力量,持续推动电子产业检测领域的发展。




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2021-06-28 1528人浏览


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