集成电路X-Ray
半导体微聚焦X射线检测设备 AX8300Si
集成电路X-Ray
半导体微聚焦X射线检测设备 AX8300Si
◆ 2μm闭式管,高解析度

◆ Lead Frame/BGA/IC/LED/IGBT检测

◆ 高速CNC巡航测算

◆ Rework复判
半导体X-ray
微焦点X射线检测设备
产品详情
产品参数

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日联科技半导体X-ray