集成电路X-Ray
半导体微焦点X射线检测装备 AX8300S Plus
集成电路X-Ray
半导体微焦点X射线检测装备 AX8300S Plus
◆ 2.5D无死角检测

◆ 高分辨率,解析度2μm

◆ 双屏双摇杆

◆ 配备半导体自动检测算法,单个点检测1.5S
半导体X-ray
微焦点X射线检测设备
产品详情
产品参数

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