集成电路X-Ray
半导体微焦点X射线检测装备 AX9600
集成电路X-Ray
半导体微焦点X射线检测装备 AX9600
◆ 几何放大倍率达1500x

◆ 多行业AI小模型算法

◆ 360度全方位的xy检测

◆ 34寸4K曲面显示器

◆ 自研开放式微聚焦X射线源
产品详情
产品参数

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产品说明  Product description


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日联科技半导体X射线检测设备 —— AX9600

具备高性能、高清晰度和高分辨率的X-Ray检测设备,主要应用于半导体、SMT、DIP、覆盖IC、BGA、CSP、倒装芯片、LED等检测检测缺陷类别(半导体行业)


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设备应用  Application


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日联科技微焦点X-ray AX9600,搭载自研开放式微聚焦X射线源,配置百万级高分辨率FPD探测器,实现高清晰实时成像,

超大放大倍率1500X,清晰捕捉TGV和TSV工艺中微小对象的纤细细节,

可用于试制过程中、打样过程中的品质或者工艺的检测以及可以配合工装进行批量检测。


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产品特点  Product Characteristics

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客户案例  Customer Case


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日联科技微焦点X-ray AX9600检测系统拥有更强大的图像处理功能

可简单清晰地进行封装检测、内部结构观测:爬锡高度;空洞(孔洞);连锡、虚焊、漏焊、短路(等焊接不良);裂纹等


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安全保障  Safety Protection


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防辐射结构-射线源无动作自保护功能-接地保护


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