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纳米智检洞见未来!日联科技AX9600荣获EM创新奖
发布时间:2026-04-04 09:00:00

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3月26日,2026第二十一届EM创新奖颁奖典礼于上海举办。日联科技AX9600凭借先进的“0.8μm级缺陷全捕捉、纳米级成像、全方位AI智检”能力斩获EM创新奖。

 

日联开管X-RAY

半导体智检装备AX9600

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采用日联自研160kV开放式微聚焦X射线源,轻松满足HBM、GPU等AI算力芯片和先进封装的检测需求。

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•2000X超级放大   •高清晰实时成像

•360°全方位检测   •AI缺陷自动测算

 

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作为电子制造行业极具含金量的荣誉,EM创新奖围绕创新性、产能提升、工艺先进性等七大维度,评选出为推动电子制造业发展和创新做出卓越贡献的供应商。

 

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此次获奖,标志着 AX9600 的硬核实力得到行业与市场的高度认可,更体现了行业客户对日联科技的充分信赖与坚定选择。

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